ZETA電位儀可測(cè)量濃度低的溶液到濃度高的溶液的ZETA電位粒徑及分子量。粒子表面存在的凈電荷，影響粒子界面周?chē)鷧^(qū)域的離子分布，導(dǎo)致接近表面抗衡離子濃度增加。于是，每個(gè)粒子周?chē)嬖陔p電層。
繞粒子的液體層存在兩部分：一是內(nèi)層區(qū)，稱為緊密層，其中離子與粒子緊緊地結(jié)合在一起；另一個(gè)是擴(kuò)散層，其中離子松散地與粒子相吸附。
在分散層內(nèi)，有一個(gè)抽象邊界，在邊界內(nèi)的離子和粒子形成穩(wěn)定實(shí)體。當(dāng)粒子運(yùn)動(dòng)時(shí)，在此邊界內(nèi)的離子隨著粒子運(yùn)動(dòng)，但此邊界外的離子不隨著粒子運(yùn)動(dòng)。這個(gè)邊界稱為流體力學(xué)剪切層或滑動(dòng)面。在這個(gè)邊界上存在的電位即稱為ZETA電位。
談粒度不得不說(shuō)ZETA電位，很多微納米產(chǎn)品都需要表征其穩(wěn)定性，粒度大小、ZETA電位、ph值、溫度、產(chǎn)品配方等會(huì)影響樣品穩(wěn)定性，而ZETA電位是樣品穩(wěn)定性比較直觀的一個(gè)參數(shù)。
ZETA電位是納米材料的一種重要表征參數(shù)?，F(xiàn)代儀器可以通過(guò)簡(jiǎn)便的手段快速準(zhǔn)確地測(cè)得。大致原理為：通過(guò)電化學(xué)原理將ZETA電位的測(cè)量轉(zhuǎn)化成帶電粒子淌度的測(cè)量，而粒子淌度的測(cè)量測(cè)是通過(guò)動(dòng)態(tài)光散射，運(yùn)用波的多普勒效應(yīng)測(cè)得。
雙電層的厚度與溶液中的離子濃度有關(guān)，可根據(jù)介質(zhì)的離子強(qiáng)度進(jìn)行計(jì)算，離子強(qiáng)度越高，雙電層愈壓縮同，離子的化合價(jià)也會(huì)影響雙單層的厚度，三價(jià)離子(Al3+)將會(huì)比單價(jià)離子(Na+)更多的壓縮雙電層。
研究樣品中的添加劑濃度對(duì)產(chǎn)品ZETA電位的影響可為研發(fā)穩(wěn)定配方的產(chǎn)品提供有用的信息，樣品中已知雜質(zhì)對(duì)ZETA電位的影響可作為研制抗絮凝的產(chǎn)品的有力工具。
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